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QRM測(cè)試模體 MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體,MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試卡,采用雙硅芯片相互垂直、通過塑料支架固定的設(shè)計(jì)理念,使兩個(gè)3 x 3 mm²芯片均呈現(xiàn)數(shù)組線狀或點(diǎn)狀圖樣,寬度和直徑從1µm到10µm不等。
產(chǎn)品分類
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
QRM測(cè)試模體 MicroCT-Barpattern-NANO詳細(xì)介紹:
QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體,MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試卡,采用雙硅芯片相互垂直、通過塑料支架固定的設(shè)計(jì)理念,使兩個(gè)3 x 3 mm2芯片均呈現(xiàn)數(shù)組線狀或點(diǎn)狀圖樣,寬度和直徑從1µm到10µm不等。
QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體,MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微。
CT柱狀測(cè)試技術(shù)參數(shù):
柱狀部分:
直徑:5.2 mm
總長(zhǎng):19.1 mm
材料:致密塑料
芯片部分:
直徑:2.96 mm
總長(zhǎng):0.66 mm
材料:硅
芯片上圖樣尺寸范圍:1µm至10µm
圖樣深度:5µm至15µm
對(duì)比材料:硅/空氣
QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體,MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試卡芯片上有一個(gè)傾斜的邊緣(字母“L"字樣)以及一個(gè)西門子星卡圖樣(呈放射狀)。不同的圖樣結(jié)構(gòu)均以這樣的方式排布于芯片上,從而使用戶僅通過一次曝光和測(cè)量就可以對(duì)整個(gè)芯片的中心以及外圍的空間分辨率做出評(píng)估。
作為我們流行的MicroCT-BarPattern-Phantom的進(jìn)一步發(fā)展,我們現(xiàn)在推出BarPattern-NANO!
QRM測(cè)試模體 MicroCT-Barpattern-NANO技術(shù)指標(biāo):
QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微型CT測(cè)試模體,MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試卡 | |
基礎(chǔ)材料: | 固體塑料(切屑放在空氣中的支撐件上-壁厚> 0.3 mm) |
模體直徑: | 5.2毫米 |
高度: | 19毫米 |
硅芯片的措施: | 3 x 3 x 0.66毫米 |
芯片上的結(jié)構(gòu)(分辨率): | 分別為1至10 µm。500至50 LP / mm |
芯片材質(zhì): | 硅 |
圖案對(duì)比 | 硅/空氣 |
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